2025年12月24日,泰国新能源电池厂项目圆满落地!赛默飞离子色谱AXP+Inuvion(配7.3.2变色龙)、赛默飞新款ICPMS型号:iCAP MSX 300(搭Qtegra Software)及卡尔费休852Titrando水分测定仪,安装调试培训全完成~ 精准攻克半导体与锂电NMP项目检测需求,超痕量阴阳离子、16种重金属及痕量水分皆能高效捕获!感恩客户信赖,谱标科技将持续以专业仪器方案赋能新能源产业,共赴高质量发展~

赛默飞离子色谱 AXP + Inuvion(配 Chromeleon 7.3.2)、赛默飞 iCAP MSX 300 ICP-MS(搭 Qtegra 软件),以及 Metrohm 852 Titrando 卡尔费休水分测定仪,确实在半导体和锂电行业对 NMP(N-甲基吡咯烷酮)等高纯溶剂的检测中具有很强的技术优势。以下是对它们如何精准攻克相关检测需求的简要分析:
1. 赛默飞离子色谱 AXP + Inuvion(Chromeleon 7.3.2)
应用方向:超痕量阴/阳离子分析(如 F⁻、Cl⁻、NO₃⁻、SO₄²⁻、Na⁺、K⁺、NH₄⁺ 等)
技术亮点:
AXP 高压泵:提供稳定流速与低脉动,适合高灵敏度检测;
Inuvion 抑制器:新一代电解自再生抑制技术,背景电导低、信噪比高;
Chromeleon 7.3.2 软件:支持合规性(21 CFR Part 11)、自动化方法开发与数据审计追踪;
在 NMP 检测中的价值:
可检测 ppb 级甚至 ppt 级离子杂质,满足半导体级 NMP 对金属离子和卤素离子的严苛要求。


2. 赛默飞 iCAP MSX 300 ICP-MS(Qtegra 软件)
应用方向:16 种及以上重金属元素(如 Fe、Cu、Zn、Ni、Cr、Pb、As 等)的超痕量分析
技术亮点:
三锥接口 + 高效离子传输:提升灵敏度与稳定性;
碰撞/反应池(CRC)技术:有效消除多原子干扰(如 ArO⁺ 对 Fe 的干扰);
Qtegra 软件:专为 ICP-MS 设计,支持智能调谐、批量处理与合规报告;
在 NMP 检测中的价值:
检出限可达 ppt 级,满足半导体和动力电池对 NMP 中金属杂质的极限控制(通常要求 <1 ppb)。


3. Metrohm 852 Titrando 卡尔费休水分测定仪
应用方向:NMP 中痕量水分测定(典型要求:≤50 ppm,应用 ≤10 ppm)
技术亮点:
双铂针死停终点法或永停法,结合库仑/容量法灵活选择;
全自动滴定 + 智能干燥保护,避免环境水分干扰;
高精度微量进样与密封系统,确保结果重现性;
在 NMP 检测中的价值:
可精确测定 1–100 ppm 级水分,对锂电生产中 NMP 回收液或新液的水分控制至关重要(水分过高会导致 SEI 膜不稳定、电池性能下降)。

综合优势(针对半导体 & 锂电 NMP 项目):

✅ 结论:
这套组合方案能够高效、精准、合规地覆盖半导体与锂电行业中对 NMP 溶剂的全维度质量控制需求,尤其适用于高纯化学品供应商、电池材料厂及晶圆制造前道工艺的质量实验室。
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