2025年09月05日, 再次衷心感谢江西某半导体新材料公司的信任与支持!贵司再次选购的安捷伦电感耦合等离子体质谱仪5800VDV ICP-OES已顺利完成安装调试与培训。
ICP-OES 5800VDV电感耦合等离子体质谱仪具备同步垂直双向观测(SVDV)等功能,专为严苛半导体材料分析而生,助力客户品质控制与研发创新。感恩再次选择,谱标将继续以专业技术与服务为半导体产业赋能!
Agilent 5800VDV:半导体级 ICP-OES 的“速度+精度”双引擎
一、SVDV 同步垂直双向观测 —— 一次读数 = 轴向 + 径向双重信号
轴向光程长,检出限低(ppb 级)
径向基体耐盐高,可减少 90% 易电离元素干扰
同步采集,无需重复进样,产能直接翻倍
二、半导体硬核配置
高纯石英炬管 + Pt 锥接口,空白 Al<1 ppb、Fe<0.5 ppb
冷等离子体模式,K、Na 背景<0.2 ppb,满足 SEMI G5 级高纯试剂
耐 HF 基体进样系统(PFA 雾化器、惰性炬管),直接测 BOE、磷酸蚀刻液
密闭风箱光室,N2 purge ≤ 5 min,远紫外(167 nm)测 Al、P、S 更灵敏
三、ICV/CV 自动 QC 策略
"IntelliQuant" 360° 全谱扫描,一次曝光即可识别 70+ 杂质,误差<5%
内置 SEMI/GB/T 模板,自动输出 "Pass/Fail" 报告,QC 失败即刻停泵并邮件报警
方法开发向导:输入基体与目标限,仪器自动推荐波长、内标与背景校正点,10 min 生成 SOP
四、产能与成本实测
高纯硫酸(H2SO4 98%)中 20 元素,检出限 0.3-3 ppb,样品通量 120 个/班
与 5100 单轴向相比,氩气节省 30%,炬管寿命延长 40%,年度耗材成本 ↓ 约 1.8 万元
五、典型半导体应用场景
高纯湿电子化学品 —— HF、H2O2、H2SO4、IPA 中 35 元素 ≤ G5 级
硅片/晶圆表面 —— 全反射 XRF 前处理浸提液,Fe/Ni/Cu/Na 污染监控
CMP 抛光液 —— Al2O3、SiO2 浆料中 Na、K、Ca、Mg 杂质 ≤ 50 ppb
光刻胶与溶剂 —— PGMEA、NMP 中 Li、B、P、S 超低背景检测
靶材与电子陶瓷 —— ITO、Ti、Ta、Co 靶中痕量 U/Th(<0.1 ppb)放射性控制
六、一键开机 + 远程诊断
"Plug & Ignite" 30 min 完成波长校准与性能测试,网络连接工程师在线诊断 > 80% 故障,停机时间<4 h
选择 5800VDV,让 ppb 级杂质无处遁形,为晶圆良率、靶材纯度与工艺研发提供"即刻可判"的数据底气!
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