产品简介：Agilent 8800 ICP-MS/MS 三重四极杆质谱仪/电感耦合等离子体质谱仪,Agilent 8800 ICP-MS/MS 代表 ICP-MS 技术的一次重大进步，并重新定义了痕量元素分析的性能。与现有的四极杆 ICP-MS 仪器相比，8800ICP-MS/MS 在工业和学术研究实验室的许多应用中均表现出了显著的分析优势。

Agilent 8800 ICP-MS/MS 三重四极杆质谱仪/电感耦合等离子体质谱仪

Agilent 8800 ICP-MS/MS 代表 ICP-MS 技术的一次重大进步，并重新定义了痕量元素分析的性能。与现有的四极杆 ICP-MS 仪器相比，8800 

ICP-MS/MS 在工业和学术研究实验室的许多应用中均表现出了显著的分析优势。

配置安捷伦ICP-MS/MS，三重四级杆加持，搭配 氩氧反应池 和 氢气碰撞池，干扰消除能力傲视同侪！

核心耗材配全新：铂金锥、雾化器、雾化室、矩管，状态如新，精度保障！

专为严苛检测而生：

✅ 半导体材料痕量分析

✅ 核工业/核电站高要求检测

✅ 军gong关键材料管控

✅ 地质勘探与矿产资源评价

✅ 稀土分离与高纯产品检测

成色良好，配置齐全，是您高精度、高稳定性元素分析的理想之选！高性价比入手时机，助您检测能力再升级！感兴趣的朋友，欢迎深入交流!

Agilent 8800 ICP-MS/MS 三重四极杆质谱仪/电感耦合等离子体质谱仪

技术特点

对三重四极杆质谱仪的定义是：“包含两个串接而成的传输四极杆的串联质谱仪，位于它们中间的（非选择性）仅具有射频(RF) 的四极杆（或其

他多极杆）充当碰撞池。”碰撞池含有离子导杆（安捷伦 ICP-MS/MS 中的离子导杆是八极杆反应池系统(ORS)），可以通过碰撞气或反应气加

压而使潜在干扰离子发生选择性衰减。在 MS/MS 模式下，两个四极杆均充当单位质量过滤器，通过第1个四极杆 (Q1)对具有目标分析物质量数

的离子进行选择并使其进入 ORS 池中，在 ORS 池中将分析物离子与重叠的干扰离子分开。从池中出来的产物离子经第二个四极杆 (Q2)过滤之

后进入检测器。该配置充分发挥了反应池气体方法的潜能，能够消除包括同质异位素和双电荷干扰以及多原子离子重叠在内的质谱干扰。

因此，ICP-MS/MS 能够以更强的可靠性和更高的可信度在更大范围内测定更低浓度的分析物。

ICP-MS/MS 技术 安捷伦 ICP-MS/MS 串联质谱（包括两个全功能质量过滤器，ORS 池的前后各一 个）能够以超高的精度控制进入碰撞/反应池

 (CRC) 的离子。Q1 可剔除所有非目 标质量数/元素，确保 CRC 中的反应过程更纯粹，即使样品组成发生变化时也是 如此。第1个四极杆 Q1 对

离子的准确控制对于在 MS/MS 模式下获得准确的分 析性能至关重要。为了可靠、稳定地控制反应过程，Q1 必须仅允许具有目标质荷 比 (m/z) 

的离子进入池中。不满足要求的质量过滤效率将导致非目标离子所产生 的干扰物质进入池中。为确保实现有效的质量过滤并获得高质量的数据，

安捷伦 ICP-MS/MS 仪器的 Q1 和 Q2 采用相同的双曲面四极杆。两个四极杆均置于高真 空区域，可确保实现出色的质量过滤。这种设计使两个

四极杆均能够在单位质量 分辨率和低丰度灵敏度下运行，且保证灵敏度不会显著下降。 

如图所示，通过比较 Ti-NH3 簇离子的产物离子谱图，

展示出不同 Q1 质量过滤器 性能的影响。产物离子谱图（上图）使用质量分辨率较差的 Q1 设置获得，其中 Q1 可使 2.1 amu 窗口内的所有质量

数全数通过。这一过宽的 Q1 质量窗口不可避免地 使非目标离子进入池中，因此反应过程及形成的产物离子不受控制。在这种情况 下，由其他  

Ti同位素形成的不同 NH3 簇产生了重叠离子。例如，当 49Ti 为目标分 析物，但 Q1 无法阻止 48Ti 进入池中时，48Ti(NH2)(NH3)4 + 与 49Ti

(NH）(NH3)4 + 在 m/z 132 处发生重叠。相比之下，Ti 同位素模式（下图）在 Q1 被设定为在 0.7 amu 的 质量分辨率下运行时获得；即，Q1  

作为真正的质量过滤器，实现真正的 MS/MS 模式。Ti-NH3 产物离子与预期的 Ti 同位素模式匹配，确认独立进入池中的每 个 Ti 同位素均与 

NH3池气体发生了反应，即 48Ti+ + NH3 48Ti(NH)(NH3)4 + 。结果表 明，如果 Q1 的质量分辨率高于 0.7 amu，则无法准确分析特定的

目标分析物离 子/同位素。在无法获得真正 MS/MS 模式（两个四极杆均在单位质量分辨率下运 行）的情况下，所采集任何分析物的分析结果均

均受到影响，因为大量未知的副反 应产物离子将对目标产物离子造成严重干扰。

Agilent 8800 ICP-MS/MS 三重四极杆质谱仪/电感耦合等离子体质谱仪

应用领域/元素检测

半导体

测定超纯水中的超痕量钙Ca

测定 9.8%硫酸中的钛、钒和铬Ti、V、Cr

直接测定 20%高纯盐酸中的钒、铬、锗和砷V、Cr、Ge、As

硅片分析:测定高硅基质中的磷和钛P、Ti

分析 N-甲基-2-吡咯烷酮中痕量的硫、磷、硅和氯S、P、Si、CI

测定 20%甲醇中的硅、磷和硫S、P、Si

使用 ICP-MS/MS在冷等离子体/反应模式下测量超纯水中的超痕量钾及其他元素K、Ca、Fe

采用 GC-ICP-MS/MS使氢化物气体污染物获得了亚ppb级检测限P、Ge、As、Si

磷、硫、硅和氯的超痕量测定S、Si、P、CI

SEMI 5级高纯过氧化氢中超痕量元素的测定多种元素

使用ICP-MS/MS对半导体级过氧化氢和去离子水进行自动化分析多种元素

使用ICP-MS/MS直接分析高纯硝酸中的痕量金属杂质多种元素

使用 ICP-MS/MS分析高纯盐酸中的痕量金属杂质多种元素

材料

采用氧气质量转移和MS/MS模式测量钴基体中的砷含量AS

测定高纯铁中的硫、磷和锰Mn、S、P

直接测定高纯稀土氧化物中的痕量稀土元素REE

MS/MS 出色的丰度灵敏度在检测高纯金属中痕量元素时的优势Cu

分析半导体级有机金属钛配合物中的超痕量铜Cu

消除精炼 REE 材料分析的氢化物离子(MH*)干扰La、Ce、Pr

直接分析高纯 Nd20中的痕量 REEDy、Tb、Ho

测定高纯铜中的49种痕量元素杂质Li、Na、Ca、Fe

直接测定高纯镧系REE 氧化物中难分析的痕量稀土元素REE

使用 ICP-MS/MS对沥青质溶液进行单纳米颗粒分析多种元素

食品

使用ICP-MS/MS 准确而灵敏地分析食品中的砷和硒，以去除双电荷REE 干扰As、Se

使用氢化物发生法-ICP-MS/MS高通量测定大米中的无机砷As

利用基于GC-ICP-MS/MS的磷和硫检测方法测定农药P、S

使用HPLC-ICP-MS/MS对葡萄酒中的砷进行形态分析As

使用LC-ICP-MS/MS对牛饲料和鱼饲料进行多元素分析和硒形态分析多种元素

使用 LC-ICP-MS/MS快速分析葡萄酒中的砷形态As

使用 LC-ICP-MS/MS快速分析婴儿米粉中的砷形态As

环境

采用在线同位素稀释法准确测定标准物质中的硒Se

使用同位素稀释质谱法准确定量有机溶剂中的硫S

去除 REE* 对砷和硒的干扰As、Se

消除氧化钼对镉的干扰Cd

使用 ICP-MS/MS测定氟的可行性研究F

ICP-MS/MS 在氧气反应模式下准确测定复杂样品中的痕量砷As

采用0池气体避免对反应产物离子形成谱图重叠:四极杆ICP-MS和ICP-MS/MS的比较Ti

消除复杂质谱对贵金属同位素的干扰Ru、Rh、Pd、Ag、Os、lr、Pt、Au

HPLC-ICP-MS/MS:氟形态分析F

利用ICP-MS/MS快速分析水样中的镭-226Ra

核能

结合 MS/MS 和 0,反应模式分析放射性碘129

分析放射性同位素 Sr和 Cs”的可行性研究Sr、Cs

使用 ICP-MS/MS 02质量转移方法以UOO*的形式测定痕量26UU

测定铀基体中的镎:低丰度灵敏度和氧气反应模式的优势Np

地质

铅同位素分析:使用ICP-MS/MS的MS/MS 反应池消除20Hg 同质异位素对Pb的干扰Pb

环境水样中的硫同位素比分析S

利用 LA-ICP-MS/MS 直接分析固体样品中的锶同位素Sr

临床

全血中锰元素的分析:扩展 ICP-MS 的分析能力Mn

临床样品中钛元素的测量:关节置换术患者监测的潜在应用Ti

生命科学

利用 CapLC-ICP-MS/MS同时定量分析多肽和磷酸肽P、S

使用HPLC-ICP-MS/MS分析大鼠血清中的硒蛋白Se

利用 CapLC-ICP-MS/MS在无需特定标准品的情况下实现完整蛋白质的jue对定量分析S

制药

存在钆基磁共振造影剂时测量临床样品中的硒Se

使用杂原子作为元素标签定量分析活性药物成分S、P、CI

使用ID-ICP-MS/MS对蛋白质和抗体进行快速准确的jue对定量分析S

使用反相 HPLC-ICP-MS/MS测定双氯芬酸及其相关化合物CI

蛇毒中蛋白质的jue对定量分析S